*参与项目:陕西省重点产业创新链(群)-工业领域:高精度模拟与混合信号集成电路频谱测试技术研究,受理编号:S2020-YF-ZDCXL-ZDLGY-0297
本文主要通过测试机台模拟步进DAC,并且步进DAC 比待测器件高出4 bit,这样ATE 测试机台能够将一个待测ADC 的一个转换码平均分割16 步进,并且转换16 次。从而待测器件理想情况下每位的转换码都会重复出现16 次。直方图测试就是通过统计每个码点出现的次数,与理想情况下码点出现的次数来计算静态参数值。
1 直方图法参数计算
零点误差( EZ ) 与增益误差( EG )
图1 以柱状图表示每个转换码点的次数。假设被测器件是n 位,ATE 测试机台内部的DAC 是n+4 位。
在计算时,先利用ATE 测试机台采集每个转换码i=1到i=2n−2,重复出现的次数。我们记录转换次数为H。假设每一位转换码在ATE 出现的次数为H(i)。有
在直方图测试法下有:
VZST是数字输出转换码从00..00 到00..01 时的模拟值。
VFST是使数字输出转换码从11..10 到11..11 的模拟值。根据待测ADC 静态参数LSBDOUT 准计算公式
ADC的零点误差:
同理增益误差EG:
其中, H[IDEAL] 直方图测试法中理想状态ADC 的输出数码对应的机台步进的次数。
1.2 差分非线性误差 (DNL) 与微分非线性误差 (INL)
根据VFST、VZST的定义,在直方图测试法下有:
由式(4)(5)相减可以得出
根据A/D 静态参数LSBDUT准计算公式
Code Center[i]为转换码中心是指当数字输出为i时,其1/2 码宽对应的模拟输入值。
Code Center[0]是数字转换输出i = 0的,Code Center[0]就是VZS。
零点的INL值有
理想的零点INL[0]=0
当i = 2n−1(最大值)时,可得
根据ADC静态参数传统计算公式得
当0 < i < 2n −1时,根据 ADC 静态参数标准计算公式得
可得
可得直方图测试法INL[i]的计算公式
2 测试技术实现
本文选取AD7656BSTZ 型号芯片进行测试分析,分别使用传统定义法测试和基于直方图法测试两种测试方法进行ATE 测试,并分别用这两种测试方法进行算法编写代码,分别计算零点误差、满量程误差、差分非线性误差、积分非线性误差。图2 是器件实物和理想转换示意图。
图2 理想转换示意图
2.1 基于传统定义法实现测试
图3是基于ADVANTEST T6575 测试16 位转换码对应的转换值,采样点选取了65 536 个点。该芯片为补码输出,下图为ATE 测试补码输出和转换后测试输出值。ATE将测试的65 536 个转换值抓取到数组中进行传统定义法计算得出EZ、EG、DNL、INL 分别为-0.03%FS、0.02%FS、-1.5LSB、1.2LSB。
图3 定义测试AD7656BSTZ转换码
2.2 基于直方图法实现测试
图4 图5 是基于ADVANTEST T2000 测试转换输出和DNL测试结果。计算得出EZ、EG、DNL、INL 分别为-0.04%FS、0.03%FS、0.6LSB、1.0LSB。
图4 直方图法测试转换码
图5 直方图DNL测试结果
3 对比分析
基于传统定义法测试特点首先算法简单容易实现,但是算法计算量较大,其次零点误差和增益误差可直接计算,并且能够直观反映该项参数的指标。直方图法测试特点首先在计算DNL 和INL 可剔除系统干扰或者噪声引起的某个转换点的突变或者丢码。其次直方图法测试需要系统的采样点多,工程上至少1 个转换点需要重复测试16 次,才能保证该算法的优势。但同时也增加了测试时间。
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(本文来源于《电子产品世界》杂志2023年5月期)